中国科学院物理研究所考研导师白雪冬介绍
作者：科大科院考研网 发表时间：2019-09-28 来源：研招办
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白雪冬 男 博导 物理研究所
电子邮件：xdbai@iphy.ac.cn
通信地址：北京市海淀区中关村南三街8号
邮政编码：100190
部门/实验室：表面实验室
研究领域
低维纳米材料与介观物理；透射电子显微学表征
招生信息
每年招收来自物理、材料或机械电子等专业的硕博连读生2名左右，欢迎有透射电镜专业背景的毕业生来读博士学位或做博士后。
招生专业
070205-凝聚态物理
080501-材料物理与化学
080501-材料物理与化学
招生方向
低维纳米材料与介观物理
表界面物理
原位透射电镜表征技术与应用
表界面物理
原位透射电镜表征技术与应用
教育背景
1993-09--1999-06 中国科学院金属研究所 博士
学历
中科院金属研究所 -- 研究生
学位
中科院金属研究所 -- 博士
出国学习工作
2004，10-2005，9 日本国立材料研究所 访问研究员
2002，11-2003，3 美国哈佛大学 访问学者
2001，12-2002，11 美国佐治亚理工学院 博士后
2000，4-2000，9 美国纽约州立大学布法罗分校 访问学者
2002，11-2003，3 美国哈佛大学 访问学者
2001，12-2002，11 美国佐治亚理工学院 博士后
2000，4-2000，9 美国纽约州立大学布法罗分校 访问学者
工作经历
工作简历
2006-06--今 中国科学院物理研究所 研究员
2004-10--2005-09 日本国立材料研究所 访问研究员
2002-12--2003-03 美国哈佛大学 访问学者
2001-12--2002-11 美国佐治亚理工学院 博士后
2000-04--2000-09 美国纽约州立大学布法罗分校 访问学者
2004-10--2005-09 日本国立材料研究所 访问研究员
2002-12--2003-03 美国哈佛大学 访问学者
2001-12--2002-11 美国佐治亚理工学院 博士后
2000-04--2000-09 美国纽约州立大学布法罗分校 访问学者
社会兼职
2010-01--今 Journal of Nanomaterials杂志副主编
教授课程
专利与奖励
奖励信息
（1） 轻元素新纳米结构的构筑、调控及其物理特性研究，二等奖，国家级，2011
专利成果
（1） 一种安装和操纵单个线形纳米材料的装置，发明，2004，第2作者，专利号：ZL200410069356.7
（2） 一种测量单个线形纳米材料杨氏模量的方法，发明，2004，第1作者，专利号：ZL200410069357.1
（3） 原位微区结构分析与性质测试联合系统，发明，2004，第1作者，专利号：ZL200410070112.0
（4） 一种可用于性质测量的透射电子显微镜样品台转接头和配套用基片及基片的制作方法，发明，2007，第2作者，专利号：ZL200710179537.9
（5） 一种在透射电子显微镜中原位测量纳电子器件性质的样品台系统，发明，2008，第2作者，专利号：ZL200810055675.0
（6） 一种扫描探针显微镜探针驱动装置 ，发明，2004，第1作者，专利号：ZL200410070003.9
（7） 透射电镜中扫描探针装置的双倾转样品台，发明，2012，第2作者，专利号：201210155033.4
（8） 一种微机械器件的载荷疲劳性能测试系统，发明，2014，第3作者，专利号：201410068708.0
（9） 原位透射电镜光学测量系统，发明，2012，第2作者，专利号：201210518692.X
（10） 一种在电透射镜中原位变温测量光谱的装置，发明，2013，第3作者，专利号：201310484579.9
（11） 用电场激活稀土氧化物及其复合氧化物催化剂的活性，发明，2010，第2作者，专利号：ZL200910078332.0
（2） 一种测量单个线形纳米材料杨氏模量的方法，发明，2004，第1作者，专利号：ZL200410069357.1
（3） 原位微区结构分析与性质测试联合系统，发明，2004，第1作者，专利号：ZL200410070112.0
（4） 一种可用于性质测量的透射电子显微镜样品台转接头和配套用基片及基片的制作方法，发明，2007，第2作者，专利号：ZL200710179537.9
（5） 一种在透射电子显微镜中原位测量纳电子器件性质的样品台系统，发明，2008，第2作者，专利号：ZL200810055675.0
（6） 一种扫描探针显微镜探针驱动装置 ，发明，2004，第1作者，专利号：ZL200410070003.9
（7） 透射电镜中扫描探针装置的双倾转样品台，发明，2012，第2作者，专利号：201210155033.4
（8） 一种微机械器件的载荷疲劳性能测试系统，发明，2014，第3作者，专利号：201410068708.0
（9） 原位透射电镜光学测量系统，发明，2012，第2作者，专利号：201210518692.X
（10） 一种在电透射镜中原位变温测量光谱的装置，发明，2013，第3作者，专利号：201310484579.9
（11） 用电场激活稀土氧化物及其复合氧化物催化剂的活性，发明，2010，第2作者，专利号：ZL200910078332.0
