中国科学院光电技术研究所 贾辛 男 硕导
作者：科大科院考研网 发表时间：2019-12-13 来源：研招办
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研究领域
招生信息
招生专业
080402-测试计量技术及仪器
080402-测试计量技术及仪器
080402-测试计量技术及仪器
招生方向
光学检测
检测仪器开发
检测仪器开发
教育背景
2008-09--2011-06 中国科学院光电技术研究所 光学工程博士
2005-09--2008-06 中国科学院光电技术研究所 物理电子学硕士
2001-09--2005-06 华中科技大学 学士
2005-09--2008-06 中国科学院光电技术研究所 物理电子学硕士
2001-09--2005-06 华中科技大学 学士
学历
学位
工作经历
工作简历
2011-07~现在, 中国科学院光电技术研究所, 副研究员
2008-09~2011-06,中国科学院光电技术研究所, 光学工程博士
2005-09~2008-06,中国科学院光电技术研究所, 物理电子学硕士
2001-09~2005-06,华中科技大学, 学士
2008-09~2011-06,中国科学院光电技术研究所, 光学工程博士
2005-09~2008-06,中国科学院光电技术研究所, 物理电子学硕士
2001-09~2005-06,华中科技大学, 学士
社会兼职
教授课程
专利与奖励
奖励信息
（1） 入选中国科学院青年创新促进会, , 其他, 2014
（2） 朱李月华优秀博士奖, , 其他, 2011
（2） 朱李月华优秀博士奖, , 其他, 2011
专利成果
（ 1 ） 一种带有运动坐标反馈的子孔径拼接面形检测装置, 2014, 第 1 作者, 专利号: 201210304174
（ 2 ） 一种带有环境反馈的自动干涉检测系统及方法, 2013, 第 1 作者, 专利号: 201310473266
（ 3 ） 一种检测小孔衍射球面波光学面形的检测装置, 2013, 第 1 作者, 专利号: 201210106746
（ 4 ） 一种利用小孔衍射进行待测件定位的装置及方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: 201510189200
（ 5 ） DETECTION DEVICES AND METHODS USING DIFFRACTION WAVEFRONT OF A PINHOLE STITCHING MEASUREMENT OF SURFACE SHAPE, 2015, 第 1 作者, 专利号: 207431.5/1506957.8/14/695590
（ 6 ） 一种用于小孔标定的检测装置及方法, 2013, 第 1 作者, 专利号: 201110316482
（ 7 ） 光学面形的检测装置及光学面形的检测方法, 2012, 第 1 作者, 专利号: CN 101949690 B
（ 8 ） 一种子孔径拼接干涉仪系统及测量光学镜片面形的方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN102865809B
（ 9 ） 一种利用小孔衍射波面拼接测量面形的检测装置及方法, 2014, 第 1 作者, 专利号: 201410264644.1
（ 10 ） 一种三平面绝对测量光学面形的检测装置及方法, 2014, 第 1 作者, 专利号: CN102620680
（ 11 ） 一种光学面形的检测装置及方法, 2014, 第 1 作者, 专利号: 201210199391
（ 12 ） Apparatus and Method for Detecting Optical Profile US patent , 2014, 第 1 作者, 专利号: US214645
（ 2 ） 一种带有环境反馈的自动干涉检测系统及方法, 2013, 第 1 作者, 专利号: 201310473266
（ 3 ） 一种检测小孔衍射球面波光学面形的检测装置, 2013, 第 1 作者, 专利号: 201210106746
（ 4 ） 一种利用小孔衍射进行待测件定位的装置及方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: 201510189200
（ 5 ） DETECTION DEVICES AND METHODS USING DIFFRACTION WAVEFRONT OF A PINHOLE STITCHING MEASUREMENT OF SURFACE SHAPE, 2015, 第 1 作者, 专利号: 207431.5/1506957.8/14/695590
（ 6 ） 一种用于小孔标定的检测装置及方法, 2013, 第 1 作者, 专利号: 201110316482
（ 7 ） 光学面形的检测装置及光学面形的检测方法, 2012, 第 1 作者, 专利号: CN 101949690 B
（ 8 ） 一种子孔径拼接干涉仪系统及测量光学镜片面形的方法, 2015, 第 1 作者, 专利号: CN102865809B
（ 9 ） 一种利用小孔衍射波面拼接测量面形的检测装置及方法, 2014, 第 1 作者, 专利号: 201410264644.1
（ 10 ） 一种三平面绝对测量光学面形的检测装置及方法, 2014, 第 1 作者, 专利号: CN102620680
（ 11 ） 一种光学面形的检测装置及方法, 2014, 第 1 作者, 专利号: 201210199391
（ 12 ） Apparatus and Method for Detecting Optical Profile US patent , 2014, 第 1 作者, 专利号: US214645
出版信息
发表论文
（1） Experiment analysis of freeform testing based on absolute testing method, SPIE, 2014, 第 1 作者
（2） Absolute testing of flats with all terms by using even and odd functions, SPIE, 2013, 第 1 作者
（3） Absolute testing of freeform lens, SPIE, 2013, 第 1 作者
（4） Wavefront testing of pinhole based on point diffraction interferometer, SPIE, 2013, 第 1 作者
（5） 采用奇偶函数法的平面面形绝对测量技术仿真分析, 红外与激光工程, 2012, 第 1 作者
（6） Error analysis of sub-aperture stitching interferometry, SPIE, 2012, 第 1 作者
（7） Experiment analysis of absolute flatness testing, SPIE, 2012, 第 1 作者
（2） Absolute testing of flats with all terms by using even and odd functions, SPIE, 2013, 第 1 作者
（3） Absolute testing of freeform lens, SPIE, 2013, 第 1 作者
（4） Wavefront testing of pinhole based on point diffraction interferometer, SPIE, 2013, 第 1 作者
（5） 采用奇偶函数法的平面面形绝对测量技术仿真分析, 红外与激光工程, 2012, 第 1 作者
（6） Error analysis of sub-aperture stitching interferometry, SPIE, 2012, 第 1 作者
（7） Experiment analysis of absolute flatness testing, SPIE, 2012, 第 1 作者
发表著作
科研活动
科研项目
（ 1 ） 02专项子课题, 参与, 国家级, 2008-07--2015-12
参与会议
合作情况
项目协作单位
指导学生
